Kính Hiển Vi điện Tử Quét FE-SEM - TESCAN MIRA - Mtechnology

• 0988248156
• levanthuong@mtechnology.vn

Tìm kiếm

1. Kính hiển vi điện tử quét SEM FE-SEM
2. SEM cho khoa học vật liệu
3. TESCAN MIRA

TESCAN MIRA - Kính hiển vi điện tử quét FE-SEM Vietnamese

• Vietnamese
• English (UK)

TESCAN MIRA - Kính hiển vi điện tử quét FE-SEM

SEM có độ phân giải cao cho các ứng dụng nghiên cứu đặc tính vật liệu và kiểm soát chất lượng ở thang sub-micronmet

TESCAN MIRA là Kính hiển vi điện tử quét (SEM) thế hệ thứ 4 của hãng TESCAN, SEM sử dụng nguồn phát xạ điện tử Schottky, kết hợp khả năng xem ảnh live và phân tích thành phần nguyên tố trong chung một cửa sổ phần mềm TESCAN Essence™. Sự kết hợp này đã đơn giản hóa việc thu thập cả dữ liệu hình ảnh bề mặt và dữ liệu phân tích trên một mẫu một cách nhanh chóng, giúp SEM MIRA trở thành giải pháp phân tích hiệu quả để kiểm tra vật liệu thông thường trong kiểm soát chất lượng, kiểm soát lỗi và nghiên cứu trong phòng thí nghiệm.

Đặc điểm nổi bật

• Nền tảng phân tích kết hợp đầy đủ và hiệu quả với Essence™ EDS, cho phép thu ảnh SEM và kết quả phân tích thành phần nguyên tố trong cùng một cửa sổ Essence™ duy nhất.
• Tối ưu hình ảnh và điều kiện phân tích ngay lập tức nhờ vào thiết kế cột SEM không giới hạn độc đáo của TESCAN bởi sáng chế công nghệ In-flight Beam Tracing™.
• Điều chỉnh SEM dễ dàng và chính xác nhờ sự hỗ trợ của thiết kế Wide Field Optics™, giúp quan sát ở độ phóng đại 2x mà không cần thêm camera để hỗ trợ điều chỉnh vị trí mẫu.
• Chế độ SingleVac™ là một tính năng tiêu chuẩn để quan sát các mẫu dễ tích điện bề mặt và mẫu nhạy với chùm điện tử.
• Phần mềm Essence™ được thiết kế trực quan, dễ sử dụng giúp tăng trải nghiệm cho mọi cấp độ người dùngAn toàn tuyệt đối cho hệ đầu dò gắn trong SEM khi sàn mẫu và mẫu di chuyển, được đảm bảo bởi Essence™ 3D Collision.
• Các đầu đo SE và BSE trong cột SEM có bổ sung dạng lựa chọn thêm, kết hợp công nghệ giảm tốc chùm tia (BDT) tăng cường hiệu suất thu ảnh ở điện áp gia tốc thấp.
• Nền tảng phân tích cho phép lựa chọn bổ sung các đầu đo phân tích khác và tích hợp dễ dàng như CL, Water cooled BSE or RAMAN spectrometer...

Hình ảnh ứng dụng tiêu biểu

Webinar gần đây

Tiết lộ bí mật Điện cực của Pin (Battery Electrode) bằng AFM-in-SEM

Khám phá chiều thứ 4 của đặc tính vật liệu, khi nghiên cứu bằng TESCAN Micro CT…

Chuẩn bị mẫu cho Chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử APT với TESCAN FIB-SEM

5 ứng dụng trên Máy đo 5 trục, tiếp cận vùng khó đo, và đo tự động

Tiết lộ Giải pháp Kính hiển vi FIB-SEM trong phân tích lỗi (FA) và R&D ngành Bán dẫn

Đo kiểm chính xác 4 bộ phận/thiết bị Y tế quan trọng và dễ dàng đạt tất cả…

Khám phá Tự động hóa SEM và FIB-SEM mà không cần kỹ năng lập trình

Chuỗi Webinar sự kiện ra mắt sản phẩm mới của TESCAN FIB-SEM: AMBER 2 và AMBER X 2

Phương pháp và kỹ thuật chụp ảnh Raman tốc độ cao

Phân tích đá phiến bằng Xe Plasma FIB-SEM với kích thước lớn: Độ phân giải nanomet…

Tự động tách lớp diện tích lớn bằng Plasma FIB-SEM và đầu đo nano để nghiên cứu…

Nghiên cứu đặc tính mẫu với thông lượng tối đa bằng cách sử dụng Plasma FIB-SEM…

Tìm kiếm Đăng nhập

• Sản phẩm
  • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
  • 4D-STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét
  • FIB-SEM - Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ
  • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
  • Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT
  • Máy quang phổ Raman Renishaw
  • Spark & RDE OES - Máy quang phổ phát xạ
  • CMM - Máy đo 3D CMM
  • Hệ thống và Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
  • Module mở rộng
• Dịch vụ
• Hàng có sẵn
  • Máy đo 2D VMM/VMS
  • Máy sấy khí và phụ tùng
  • Bộ lưu điện và phụ tùng
  • Van giảm áp và phụ tùng
  • Bơm chân không và phụ tùng
  • Vật tư, phụ tùng máy SEM
  • Vật tư, phụ tùng máy TEM
  • Vật tư, phụ tùng máy đo 3D CMM
    • Kim đo và thanh nối Máy đo 3D CMM
    • Probe, Module Máy đo 3D CMM
    • Giá thay kim Máy đo 3D CMM
    • Bộ gá mẫu Máy đo 3D CMM
    • Bộ điều khiển Máy đo 3D CMM
  • Vật tư, phụ tùng máy quang phổ OES
  • Vật tư, phụ tùng máy phủ màng
• Ứng dụng
  • Khoa học vật liệu
  • Khoa học sự sống
  • Điện tử - Bán dẫn
  • Khoa học trái đất & Khai khoáng
• TechBlog
  • Kính hiển vi điện tử SEM TEM
  • Máy đo 3D CMM
  • Máy quang phổ phát xạ OES
  • Máy quang phổ Raman
  • Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
  • Tech Talks and Speakers
  • Tin tức công nghệ
• Webinar
• Về chúng tôi
  • Công ty TNHH Công nghệ M
  • Tin tức và sự kiện
  • Câu hỏi thường gặp
  • Tuyển dụng
• Liên hệ

• 0988248156
• levanthuong@mtechnology.vn