Kính Hiển Vi điện Tử Quét SEM - Mtechnology

• (028).6288.9639
• [email protected]
• [email protected]

Tìm kiếm

1. TechBlog
2. Kính hiển vi điện tử quét SEM

TechBlog Filters Hiển thị # 5 10 15 20 25 30 50 100 All Filter

Title
Giải pháp phân tích toàn diện cho "mẫu tươi" và nhạy cảm bằng hệ thống Cryo-SEM
TESCAN AMBER X 2: Định nghĩa lại tốc độ và độ chính xác trong Plasma FIB-SEM
Phân tích 2D & 3D đa quy mô: Khai phá cấu trúc vật liệu toàn diện với TESCAN FIB-SEM
Tescan Clara: Kính hiển vi điện tử đa năng cho nghiên cứu vật liệu và công nghệ tiên tiến tại các trường đại học
Cột Ga+ FIB Tescan Orage™ 2: Nâng cao tốc độ chuẩn bị Lamella TEM với độ chính xác cao
SEM hay FIB-SEM? Lựa chọn thiết bị phân tích phù hợp cho Failure Analysis
SOLARIS X 2: Mở rộng giới hạn Plasma FIB-SEM trong phân tích và chuẩn bị mẫu đa quy mô
TESCAN TEM AutoPrep Pro™: Giải pháp tự động hóa chuẩn bị lamella TEM hiệu quả
Phân biệt "Gãy dẻo và Gãy giòn" trong kỹ thuật vật liệu học

• 1
• 2
• 3
• 4
• 5
• 6
• 7
• 8
• 9
• 10

Page 1 of 12

Webinar gần đây

Từ hạ tầng đến giá trị khoa học: Khai thác toàn diện tiềm năng của giải pháp…

Chuẩn bị lamella TEM nhanh hơn đến 40% với cột Ga⁺ FIB Orage™ 2 mới

Phổ cập FIB-SEM tiên tiến với AI: Chuẩn bị mẫu TEM & cắt ngang thông minh

Webinar tổ chức bởi TESCAN và ĐH Sydney - Khám phá công nghệ Plasma FIB-SEM tiên tiến…

Inside the Chip - Phân tích lỗi bán dẫn bằng AFM-in-SEM

Bật mí "Kính hiển vi TEM điện áp thấp" cho các lát mỏng sinh học

Tìm kiếm

• Trang chủ
• Giải pháp
  • Giải pháp bán dẫn & điện tử
  • Giải pháp Khoa học Vật liệu
  • Giải pháp Tự động hóa Kiểm tra & Đo lường Công nghiệp
  • Giải pháp nghiên cứu sinh y học và phân tích ứng dụng
  • Giải pháp Giáo dục & Đào tạo
  • Vật liệu, Vật tư tiêu hao & Hàng có sẵn
• Sản phẩm
  • TEM - Kính hiển vi điện tử truyền qua
  • Kính hiển vi điện tử quét chùm ion hội tụ FIB-SEM
  • SEM, FE-SEM - Kính hiển vi điện tử quét
  • Micro-CT - Máy chụp cắt lớp Micro-CT
  • STEM - Kính hiển vi điện tử truyền quét
  • Hệ thống phủ màng dẫn điện cho SEM
  • Hệ thống chuẩn bị mẫu nghiên cứu vi cấu trúc bề mặt
  • Kính hiển vi đồng tiêu quét laser (CLSM)
  • Hệ thống điện kéo sợi
  • Máy quang phổ Raman
  • Máy quang phổ Raman Renishaw
  • Hệ thống và Máy đo 3D CMM Quang học
  • CMM - Máy đo 3D CMM
  • Máy quang phổ phát xạ
  • Module mở rộng
• Dịch vụ
• Ứng dụng
  • Khoa học vật liệu
  • Khoa học sự sống
  • Điện tử - Bán dẫn
  • Khoa học trái đất & Khai khoáng
• TechBlog
  • Kính hiển vi điện tử SEM TEM
  • Hệ thống MicroCT
  • Kính hiển vi quang học
  • Máy đo 3D CMM
  • Máy quang phổ phát xạ OES
  • Máy quang phổ Raman
  • Máy đo 3D CMM Quang học Bruker Alicona
  • Tech Talks and Speakers
  • Tin tức công nghệ
  • Kính hiển vi điện tử truyền quét STEM
• Webinars
• Về chúng tôi
  • Công ty TNHH Công nghệ M
  • Tin tức và sự kiện
  • Câu hỏi thường gặp
• Liên hệ

• (028).6288.9639
• [email protected]
• [email protected]