Preparation And Characterization Of Hafnium Silicate Dielectric Layers ...

Trang chủ » Hf(o-t-c4h9)4 » Preparation And Characterization Of Hafnium Silicate Dielectric Layers ...

Có thể bạn quan tâm

× {{flash.message}}

MISC

巻 97 号 開始ページ 103 終了ページ 110 記述言語 英語 掲載種別 DOI 10.1080/10584580802088868 リンク情報 DOIhttps://doi.org/10.1080/10584580802088868Web of Sciencehttps://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000257113400012&DestApp=WOS_CPL ID情報
  • DOI : 10.1080/10584580802088868
  • ISSN : 1058-4587
  • Web of Science ID : WOS:000257113400012
エクスポート BibTeX RIS MISCリストへ

メニュー

マイポータル

Từ khóa » Hf(o-t-c4h9)4